Embedded Systems (in der Form einer auf einer Platine aufgebauten mikroprozessorbasierten, digital-analogen Baugruppe) sind in der Vergangenheit oft durch die elektrische Funktionalität bestimmt worden. Der Produktionstest wurde direkt in der Fertigungslinie durch eine elektrische bzw. optische Prüfung realisiert (AOI oder z.B. ICT), meist durch ein stand-alone-Prüfgerät. Diese Geräte sind teuer, aufwändig in der Bedienung und verfügen über keine Cloudanbindung. Eine einfache, kostengünstige und zumindest teilweise standardisierte Lösung für den Produktionstest eingebetteter Systeme mit mittlerer bzw. geringer Komplexität sowohl stand-alone als auch im Endprodukt fehlt. Dieser Bedarf soll durch das zu entwickelnde Cyber Physical Test System (CPTS) adressiert werden. Das System besteht aus einer standardisierten, einfachen „Testmaus“, die das Device-under-Test (DUT) mit Testprogrammen bespielt und die Testdurchführung steuert, Anbaumodulen für standardisierte oder produktspezifische Tests, einer Anbindung über das Internet an eine Test-Cloud und einer Benutzerschnittstelle, z.B. in Form ein Tablets.

Fördergeber: Bundesministerium für Wirtschaft und Enegerie (BMWi)